風(fēng)冷式冷熱沖擊試驗(yàn)箱將成為未來(lái)一顆耀眼的啟明星

　　風(fēng)冷式冷熱沖擊試驗(yàn)箱又稱高低溫沖擊試驗(yàn)箱，是專業(yè)用于LED老化試驗(yàn)和耐高低溫試驗(yàn)的設(shè)備。在國(guó)內(nèi)，勤上光電，雷士照明等一大批LED光電企業(yè)，均有訂購(gòu)該系列試驗(yàn)箱做老化測(cè)試。

　　風(fēng)冷式冷熱沖擊試驗(yàn)箱溫度沖擊試驗(yàn)：

　　1、升溫/降溫速率不低于30℃/分鐘。溫度變化范圍很大，同時(shí)試驗(yàn)嚴(yán)酷度還隨著溫度變化率的增加而增加。

　　2、溫度沖擊試驗(yàn)與溫度循環(huán)試驗(yàn)的差異主要是應(yīng)力負(fù)荷機(jī)理不同。溫度沖擊試驗(yàn)主要考察由于蠕變及疲勞損傷引起的失效，而溫度循環(huán)主要考察由于剪切疲勞引起的失效。

　　3、風(fēng)冷式冷熱沖擊試驗(yàn)箱容許使用二槽式試驗(yàn)裝置；溫度循環(huán)試驗(yàn)使用單槽式試驗(yàn)裝置。在二槽式箱體內(nèi)，溫度變化率要大于50℃/分鐘。

　　4、引起溫度沖擊的原因：回流焊，干燥，再加工，修理等制造、修理工藝中劇烈的溫度變化。

　　5、加速應(yīng)力試驗(yàn)：加速試驗(yàn)是使用比在實(shí)際環(huán)境中更短的時(shí)間，對(duì)試驗(yàn)樣品進(jìn)行的加速試驗(yàn)，以考察其失效機(jī)理。試驗(yàn)的加速就是采用加大應(yīng)力的方法促使試驗(yàn)樣品在短期內(nèi)失效，。但是必須注意避免其它應(yīng)力原因引起的失效機(jī)理。

　　風(fēng)冷式冷熱沖擊試驗(yàn)箱溫度循環(huán)試驗(yàn)：

　　1、溫度循環(huán)就是將試驗(yàn)樣品曝露于予設(shè)的高低溫交替的試驗(yàn)環(huán)境中。為避開(kāi)溫度沖擊影響，試驗(yàn)時(shí)的溫度變化率必須小于20℃/分鐘。同時(shí)，為達(dá)到蠕變及疲勞損傷的效果，推薦試驗(yàn)溫度循環(huán)為25℃～100℃，或者也可根據(jù)產(chǎn)品的用途使用0℃～100℃的循環(huán)試驗(yàn)，曝露時(shí)間為各1 5分鐘。

　　2、環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)(ESS= Environmental Stress Screening)：

　　3、對(duì)產(chǎn)品施加環(huán)境應(yīng)力促使早期失效產(chǎn)品存在的潛在缺陷盡快暴露而予以剔除。ESS不是加速可靠性試驗(yàn)，主要適用于成品的可靠性篩選試驗(yàn)。

　　風(fēng)冷式冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于電子、汽車配件、塑膠等行業(yè)，測(cè)試各種材料對(duì)高、低溫的反復(fù)沖擊能力。檢測(cè)產(chǎn)品于熱脹冷縮所產(chǎn)生的化學(xué)變化或物理傷害，確保產(chǎn)品的品質(zhì)。

　　風(fēng)冷式冷熱沖擊試驗(yàn)箱用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,風(fēng)冷式冷熱沖擊試驗(yàn)箱測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，風(fēng)冷式冷熱沖擊試驗(yàn)箱可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件，無(wú)一不需要它的理想測(cè)試工具，風(fēng)冷式冷熱沖擊試驗(yàn)箱用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,藉以在zui短時(shí)間內(nèi) 試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害.風(fēng)冷式冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用的對(duì)象包括金屬, 塑料,橡膠, 電子....等材料,可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考